MVG發(fā)布MiniLAB系統(tǒng)新功能為在LTE設(shè)備上測量RSE提供了全新方

2020-12-01 09:28:14

創(chuàng)新天線測試技術(shù)的領(lǐng)先系統(tǒng)制造商—— 法國微波視覺集團(tuán)(以下簡稱MVG)最近宣布，在其廣受歡迎的MiniLAB系統(tǒng)中集成了RSE和無源天線測量功能。MiniLAB系統(tǒng)不僅可以進(jìn)行高精度的OTA測試，還可以提供被動測量，為LTE設(shè)備上的RSE測量提供了一種新的方案。

在無源天線測量中，MiniLAB的電子掃描多探頭陣列封裝在高隔離暗室中，可以加快測量速度，為直徑為30 cm *的被測器件繪制天線輻射圖，是優(yōu)化各種器件天線性能的理想解決方案。

輻射雜散輻射是指受測設(shè)備(DUT)的所有非基本輻射。高水平輻射發(fā)射會給某些無線產(chǎn)品帶來功能挑戰(zhàn)，干擾其他無線設(shè)備或無線電力系統(tǒng)，或改變設(shè)備本身的運行效率。

為此，國際電信聯(lián)盟(ITU)、歐洲的無線電力和電信終端設(shè)備指令(RTTE)以及聯(lián)邦通信委員會(FCC)等標(biāo)準(zhǔn)化組織對無線設(shè)備的RSE測量提出了嚴(yán)格的測試要求。這些測試要求旨在消除被測設(shè)備附近有其他無線設(shè)備時的干擾風(fēng)險。

過去RSE是通過垂直掃描機(jī)械運動來測量的，以便在方位角旋轉(zhuǎn)時對設(shè)備進(jìn)行監(jiān)控。但和很多傳統(tǒng)測試方法一樣，在設(shè)計和生產(chǎn)過程中非常耗時，上市時間對廠商來說非常重要。

與其他主動設(shè)備相比，MiniLAB采用多探頭技術(shù)，為LTE等主動設(shè)備提供了全新的RSE測試方案。在提供準(zhǔn)確穩(wěn)定數(shù)據(jù)的同時，可以更快、更詳細(xì)、更經(jīng)濟(jì)地解決企業(yè)的RSE測試需求。

MiniLAB可以大大縮短測量時間，提交精確的測量數(shù)據(jù)，其集成的多探頭陣列采用電子掃描測量無線設(shè)備，使用戶在高達(dá)6 GHz的LTE頻段更容易、更快速地測量RSE。RSE測量結(jié)果可在測量完成后20秒內(nèi)獲得。

微型實驗室配備了一個全消聲室屏蔽，性能為100分貝，高動態(tài)范圍，可以測量發(fā)射的無線信號和周圍發(fā)射的峰值水平，而不會造成任何失真。